Delegasi DJKI Pelajari Sistem Paten Jepang dalam Kunjungan KCCP JICA

Tokyo – Tim dari Direktorat Jenderal Kekayaan Intelektual (DJKI) yang terdiri dari tujuh Pemeriksa Paten Utama telah menyelesaikan kunjungan kerja ke Jepang dalam program Knowledge Co-Creation Program (KCCP) yang diselenggarakan oleh Japan International Cooperation Agency (JICA). Kunjungan yang berlangsung dari 19 hingga 30 Januari 2025 ini bertujuan untuk mempelajari sistem paten Jepang, khususnya dalam aspek quality assurance, proses banding paten, serta peran kekayaan intelektual (KI) dalam industri dan universitas.

Selama kunjungan, delegasi DJKI mengunjungi Japan Patent Office (JPO) untuk memahami bagaimana lembaga tersebut menerapkan sistem quality assurance dalam pemeriksaan paten. Sistem ini mencakup standar evaluasi yang ketat, pengawasan internal yang terstruktur, serta mekanisme peningkatan kualitas pemeriksaan dan banding. Selain itu, tim DJKI juga berdiskusi dengan perwakilan JPO mengenai strategi peningkatan efisiensi serta akurasi keputusan paten guna memastikan pelindungan hak kekayaan intelektual yang lebih optimal .

Delegasi juga berkesempatan mengunjungi Pengadilan Tinggi Tokyo dan Osaka untuk mempelajari sistem peradilan KI di Jepang. Salah satu aspek menarik dari sistem ini adalah penggunaan Judicial Research Official, yakni Pemeriksa Paten Utama yang diperbantukan dalam persidangan paten guna membantu hakim memahami aspek teknis suatu kasus. Model ini dinilai sangat efektif dalam meningkatkan keakuratan keputusan hukum terkait paten.

Selain itu, tim DJKI mengunjungi Osaka University dan Hiroshima University untuk meninjau bagaimana kedua institusi tersebut mengelola kekayaan intelektual mereka. Universitas-universitas ini memiliki sistem manajemen KI yang mendukung hilirisasi paten dan inovasi, termasuk penugasan Pemeriksa Paten Utama ke universitas selama dua tahun guna meningkatkan pemahaman serta jumlah paten yang dihasilkan dari riset akademik .

Kunjungan ke industri juga menjadi bagian dari agenda ini, salah satunya ke perusahaan GS Yuasa Jepang. Delegasi mempelajari bagaimana perusahaan tersebut menjadikan sistem paten sebagai bagian dari strategi bisnis mereka untuk melindungi inovasi dan meningkatkan daya saing di pasar global. Hal ini memberikan wawasan berharga bagi DJKI dalam mendorong pemanfaatan KI di sektor industri Indonesia.

Pemeriksa Paten Utama, Zainudin, yang turut serta dalam kunjungan ini menyampaikan bahwa sistem paten Jepang memiliki banyak aspek yang dapat dijadikan referensi bagi Indonesia. 

“Kami melihat bagaimana Jepang menerapkan mekanisme pengawasan kualitas yang ketat dalam pemeriksaan paten. Sistem ini memungkinkan keputusan yang lebih akurat dan dapat dipertanggungjawabkan. Jika diterapkan di Indonesia, hal ini akan meningkatkan kepercayaan pemohon paten serta daya saing inovasi nasional,” ujarnya pada 19 Januari 2025. 

Dari kunjungan ini, tim DJKI menyusun beberapa rekomendasi yang dapat diterapkan di Indonesia, termasuk pengembangan mekanisme quality assurance yang lebih ketat dalam pemeriksaan dan banding paten, adopsi model Judicial Research Officer dalam sistem peradilan KI di Indonesia, serta peningkatan kerja sama antara DJKI dan universitas untuk mendukung inovasi dan pemanfaatan paten. Kunjungan ini diharapkan dapat menjadi referensi dalam upaya memperkuat sistem KI di Indonesia guna mendukung pertumbuhan ekonomi berbasis inovasi.